Новая технология проверки микросветодиодных пластин без повреждений

Учёные из Тяньцзиньского университета создали новую технологию для проверки микросветодиодных пластин без их повреждения. Эта технология использует мягкие датчики, которые легко подстраиваются под форму пластин и оказывают очень слабое давление. Благодаря этому микросветодиоды не царапаются и не повреждаются во время проверки.
Микросветодиоды — это важная часть современных экранов. Чтобы их производство было эффективным и дешёвым, нужно точно контролировать качество пластин. Раньше для этого не было хороших способов, которые не повреждали бы пластины.
Новая технология, описанная в статье, опубликованной 13 июня в журнале Nature Electronics, использует гибкие датчики, которые могут мягко прикасаться к пластинам. Эти датчики оказывают давление, равное всего лишь лёгкому дыханию, что позволяет проверять пластины без их повреждения.
Руководитель исследования, профессор Хуан Сянь, сказал, что давление этих датчиков в 10 000 раз меньше, чем у обычных. Это не только защищает пластины, но и продлевает срок службы самих датчиков. Даже после миллиона проверок датчики остаются в хорошем состоянии.
© 2015-2025 Сетевое издание «Фактом». Зарегистрировано в Федеральной службе по надзору в сфере связи, информационных технологий и массовых коммуникаций (Роскомнадзор).
Реестровая запись ЭЛ No ФС 77 - 67652 от 10.11.2016.